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面议列真株式会社自创业以来，秉承“挑战"、“创造"、“诚实"的经营理念，为顾客提供可靠、可信的产品和服务。运用激光扫描技术，专门制造、销售半导体材料表面及内部检查、石英玻璃表面检查等检查装置。
特征：
半导体用Photomask Blanks的出厂检查、工艺评价
用微分干涉显微镜分析缺陷
检查对象：Photomask Substrate、Cr、Resist、MoSi
检查项目：颗粒、内部缺陷（Option）
检查灵敏度：PDM缺陷尺寸0.1μm（AI00）
定期支持装置安装完成后的性能维持。
24小时电话对应，全年无休的安心支持。
认真对待客户新的要求。
召开技术研讨会和充实各种手册，让顾客能够自行维护和更换零件。
提供HDD、激光光源等消耗品的免费诊断服务。
