同步测量薄膜的反射率/穿透率

不需要费时改变硬件配置，F10-RT仅需要透过单击滑鼠就能够同时收集反射与透射光谱，不到一秒钟的时间，阵列的光谱仪就可以快速的收集到资料。另外，Filmetrics的AutoBaseline设计可以减少十倍以上的基准矫正的参数读取时时间。

分析优点

F10-RT使Filmetrics的分析能力实现了同步测量反射率与穿透率。只要立即的点击滑鼠就能够产生在客户波长范围内，得出与最小的反射率与穿透率。系统内置边缘检测分析与FWHM分析，以及能展现于常见的空间色彩系统的色彩分析(例如: CIELAB与CIEXYZ)。而测量光谱与其他的数据能够很容易的透过打印与导出或以JPEG图片形式来传送。同时， 选配的膜厚和参数解算模块使F10-RT具有与Filmetrics F20相同多层薄膜分析能力。

健全、可靠的集成

F10-RT運送抵達時具有完整的標準配備，小巧的機身與USB接口保證使您容易安裝。整机无任何运动件，除钨卤素灯外无需其他维护，确保设备高度可靠。