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高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、A/B/C型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入A/B/C的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用C型具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。
一、本设备适用标准
1 GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
3 ASTM-D150-介电常数测试方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法
二、主要测试材料:
1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等
三、介电常数/介质损耗测试系统系统组成：
1. 主机：AKR-A/B/C型 高频Q表
功能名称： | A型 | B型 | C型 |
信号源范围DDS数字合成信号 | 10KHZ-70MHz | 10KHZ-110MHz
| 100KHZ-160MHz |
信号源频率覆盖比 | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
信号源频率精度 6位有效数 | 3×10-5 ±1个字 | 3×10-5 ±1个字 | 3×10-5 ±1个字 |
采样精度 | 11BIT | 11BIT | 12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性 |
Q测量范围 | 1-1000自动/手动量程 | 1-1000自动/手动量程 | 1-1000自动/手动量程 |
Q分辨率 | 4位有效数,分辨率0.1 | 4位有效数,分辨率0.1 | 4位有效数,分辨率0.1 |
Q测量工作误差 | <5% | <5% | <5% |
电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH | 1nH-8.4H , 分辨率0.1nH | 1nH-8.4H 分辨率0.1nH | 1nH-140mH分辨率0.1nH |
电感测量误差 | <3% | <3% | <3% |
调谐电容 | 主电容30-540pF | 主电容30-540pF | 主电容17-240pF |
电容直接测量范围 | 1pF～2.5uF | 1pF～2.5uF | 1pF～25nF |
调谐电容误差 分辨率 | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF | ±1 pF或<1% 0.1pF |
谐振点搜索 | 自动扫描 | 自动扫描 | 自动扫描 |
Q合格预置范围 | 5-1000声光提示 | 5-1000声光提示 | 5-1000声光提示 |
Q量程切换 | 自动/手动 | 自动/手动 | 自动/手动 |
LCD显示参数 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 |
自身残余电感和测试引线电感的 | 有 | 有 | 有 |
大电容值直接测量显示功能() | 测量值可达2.5uF | 测量值可达2.5uF | 测量值可达25nF |
介质损耗系数 | 精度 万分之三 | 精度 万分之三 | 精度 万分之一 |
最小介损系数 | 万分之一 | 万分之一 | 万分之一 |
介电常数 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 |
材料测试厚度 | 0.1mm-10mm | 0.1mm-10mm | 0.1mm-10mm |
USB接口 | 不支持 | 不支持 | 支持 |
