电子显微镜分析仪QUANTAX EBSD系统与广受欢迎的OPTIMUS TKD探头相结合，是用于分析SEM中纳米材料的晶体学解决方案。

一、亮点

1）1.5nm------有效的空间分辨率

的同轴 TKD 提供的样品-探测器几何构型，从而实现的性能

2）2nA------测试所需的电流

同轴 TKD 可实现低探头电流测试，且不影响测试速度和数据质量

3）125,000Pps------超快获取 FSE、BSE 和 STEM 图像

的ARGUS成像系统可在几秒钟内实现高对比度和低噪声成像

4）具有的空间分辨率的纳米材料取向分布图

QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是分析 SEM 中纳米材料的解决方案。原因如下：

       a）提供 1.5 nm 的空间分辨率

       b）在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试

       c）在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的 TKD 解决方案

       d）全自动内置 ARGUS 成像系统

二、优势

同轴 TKD的优势

    a）实现空间分辨率

    b）SEM 中获取取向分布图和物相分布图

    c）用于快速测试，同时不影响数据质量/完整性

   d）以令人难以置信的速度，通过全自动信号优化，以出色的对比度和分辨率拍摄 STEM 图像

   e）可使用低电流分析束流敏感材料。

三、相关图片