用于清晰成像的灵活探测：

◆利用探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。

◆利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。

◆利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。

自动化加速工作流程：

◆4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。

◆首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。

◆接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的步，将结果可视化。

高级分析型显微镜：

◆将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。

◆在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。

◆8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。

灵活的检测器选项，获取清晰图像：

◆使用新颖的ETSE和Inlens探测器在高真空下获取高分辨率表面形貌信息。

◆使用VPSE或C2D检测器在可变压力模式下获得清晰图像。

◆使用aSTEM检测器生成高分辨率透射图像。

◆使用HDBSD或YAG检测器分析成分。

技术参数：