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EVG105 晶圆烘箱 晶片烤箱
1.晶圆烘箱烤箱应用单个EVG105晶圆烘箱晶片烤箱烘烤模块是专为软或后曝光烘烤过程 参考价面议EVG301-超声波晶圆清洗机-晶圆键合机
EVG301超声波晶圆清洗机基本功能:研发型单晶圆清洗系统(晶圆清洗机) 参考价面议20J3 方块电阻薄膜材料电阻测量 STAGE 仪器平台
1 参考价面议多功能摩擦磨损试验机MFT-2000
MFT-2000模块化紧凑型多功能摩擦磨损试验机,主要用于基本摩擦,磨损和机械性能试验和分析 参考价面议Thetametrisis FR-pRo膜厚仪 膜厚测量仪
1.产品概述FR-pRo膜厚仪:按客户的需求量身定制的薄膜特性测量工具 参考价面议Filmetrics F50薄膜厚度测量仪
自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50的光谱测量系统,可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图 参考价面议FR-InLine:在线薄膜厚度测量仪
1、简述FR-InLine是一款模块化可扩展的在线薄膜厚度测量仪(膜厚仪),可进行在线非接触测量3nm-1mm厚度范围内的涂层 参考价面议FR-Mic:全自动带显微镜多点测量膜厚仪
膜厚仪FR-Mic是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,可以将光斑缩小到几个微米,进而分析微小区域或者粗糙表面薄膜特征 参考价面议Filmetrics F32薄膜厚度测量仪
FilmetricsF32薄膜厚度测量仪——在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚 参考价面议Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪
同步测量薄膜的反射率/穿透率不需要费时改变硬件配置,F10-RT仅需要透过单击滑鼠就能够同时收集反射与透射光谱,不到一秒钟的时间,阵列的光谱仪就可以快速的收集到资料 参考价面议Filmetrics F54薄膜厚度测量仪
自动化薄膜测绘FilmetricsF54系列的产品能以一个电动R-Theta平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度,样品直径达450毫米可选择数十种内建之同心圆,矩形,或线性图案模式,或自行建立无数量限制之测量点 参考价面议Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
满足薄膜厚度范围从15nm到3mm的厚度测试系统F3-sX家族利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测厚度达3毫米 参考价面议