HAST-35-ASLI半导体材料hast老化试验箱-广东艾思荔检测仪器有限公司手机版

详细介绍

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半导体材料hast老化试验箱技术规格：
1、型号hast-25、内箱尺寸∮250×450D(mm)：
2、型号hast-35、内箱尺寸∮350×500D(mm)：
3、温度范围：100℃—135℃
4、湿度范围：70~100％R。H 蒸汽湿度可调
5、压力范围：0.0kg/㎝2～2.8kg/㎝2(相对压力，锅内压力)，Jue对压力＝1.0kg/㎝2＋0.0kg/㎝2～3.0kg/㎝2(安全压力容量为4kg/㎝2＝1个大气压＋3kg/㎝2)
6、温度分布精度：±1.5℃
7、温度控制精度：±0.5℃
8、温度解析精度：0.1℃
9、加压时间：0.0kg/㎝2～2.0kg/㎝2约30分钟
10、内箱材质：采用SUS304耐寒耐热不锈钢板
11、外箱材质：采用SECC钢板，静电喷塑处理。

半导体材料hast老化试验箱试验目的：
1、加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度、与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
2、用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
3、随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即hast和UShast(HAST）现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会）所标准化。注意事项：UShast现在称为HAST(高度加速应力试验）。
艾思荔半导体材料hast老化试验箱具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水，试验过程自动运转至完成结束，使用简便。温度控制：LED数字型温度控制器可作Jing确试验温度之设定、控制及显示。定时器：LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始时以确保试验。