日本奥林巴斯 Olympus​ 35RDC测厚仪/探伤仪

Olympus​ 35RDC日本奥林巴斯 Olympus​ 35RDC测厚仪/探伤仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-02-08 16:24:01
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笃挚仪器(上海)有限公司

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产品简介

35RDC是一款简单的Go/No-Go(通过/未通过)超声检测仪,用于探测航天器材复合结构因受到撞击而在近表面处形成的缺陷。带有背光液晶显示屏,在近表面处未发现损伤时会显示GOOD字样,在探测到近表面处的缺陷时会显示BAD字样。 它使用超声波传感器,可以放置或扫描复合材料怀疑有冲击损坏的区域。 这款坚固耐用的超声波仪器仅重0.24公斤(8.5盎司),操作简单,操作简单,只需很少的培训。

详细介绍

产品描述


日本奥林巴斯 Olympus 35RDC测厚仪/探伤仪-----用于探测航天器材复合结构因受到撞击而在近表面处形成的缺陷。35RDC是一款简单的Go/No-Go(通过/未通过)超声检测仪,用于探测航天器材复合结构因受到撞击而在近表面处形成的缺陷。带有背光液晶显示屏,在近表面处未发现损伤时会显示GOOD字样,在探测到近表面处的缺陷时会显示BAD字样。 它使用超声波传感器,可以放置或扫描复合材料怀疑有冲击损坏的区域。 这款坚固耐用的超声波仪器仅重0.24公斤(8.5盎司),操作简单,操作简单,只需很少的培训。


仪器主要特征:
用于固体层压结构航空航天复合材料、简单的一键校准
厚度范围0.63毫米至22.8毫米(0.025英寸至0.900英寸)
简单的好/坏/超出校准显示读数
背光矩阵显示与用户帮助文本
手持式,重量只有0.24公斤(8.5盎司)

节能自动关机功能、AA电池操作、电池寿命长,一般150小时






应用示例

1.固体层压板 - 检测到后壁的回声

超声波脉冲从层压板的远侧反射,在特定的时间点产生回波。 仪器使用这个回声作为参考。
2.分层 - 检测到来自裂缝的回波

超声波脉冲从断裂处反射,产生比校准点更早到达的回波。 仪器认定这是一个分层。
3.材料超出校准厚度 - 回波发生在测量窗口之外

如果材料厚度发生变化,后壁的脉冲会及时改变。 

如果新材料比校准标准更厚,则仪器将其识别为“超出校准厚度”条件。




35RDC型仪表不适用于大面积扫描,而是用于筛选可疑损坏区域

35RDC测厚仪必须首先根据待测材料的特定厚度进行校准。用户通常会识别出一个显示冲击损伤的区域,然后移动到距离该点三到六英寸(75到150毫米)的显示无损的区域。超声波探头接触到材料的这个已知的良好区域,操作者按下校准键。仪器在校准点处识别区域远侧的后壁回波,并将其作为参考。然后仪器切换到测量模式,并且用户可以将探头移动到可疑区域。当探头接触到测量点时,仪器将新的回波模式与参考模式进行比较。如果回声比后壁回波早收到,或者后壁回波不存在,则说明可能有损伤,仪器显示“BAD”指示。如果在校准的后壁回波窗口之前接收到回波,或者如果后壁回波不存在,则表明可能的损坏,并且仪器显示指示误差。如果在校准窗口内只接收到较强的后壁回波,仪表显示GOOD。如果只接收到强烈的后壁回波,但超出了校准窗口,则仪器将显示“BEYOND CAL THICKNESS”

由于此分析基于参考回波,所以无论何时切换到不同厚度或不同材质的区域,都必须重新校准35RDC。这个校准程序通常只需要几秒钟。如果试图在不重新校准的情况下测量不同厚度的材料,测量仪将根据新材料比校准所使用的材料更薄还是更厚来显示“坏”或“超出校准厚度”。


技术规格

符合环保IP65防溅,耐冲击的外壳。 密封的彩色键盘

工作温度范围-10°C至+ 50°C(+ 14°F至122°F)
尺寸:(W×L×H)84mm×152mm×84mm(3.31英寸×6.0英寸×1.50英寸)
重量0.24公斤(8.5盎司)

厚度测量范围:0.63毫米至22.8毫米(0.025英寸至0.900英寸)(厚度范围取决于材料,传感器和表面条件)

显示模式:
数字读数良好,不良或超出CAL厚度
高级用户设置显示A扫描或波形。 仅供合格的NDT人员使用。
传感器频率5.0 MHz
测量更新速率20 Hz
偏差报警设定点从校准点可编程+/-。 提前设置
电源电池3节AA碱性电池或镍氢电池
工作时间典型的电池寿命为150小时; 连续照亮30小时
低电量指示器持续显示电池状态
省电模式自动关机/持续开机
交流电源可选


标准配置

标准夹层腕带,3节AA电池,5 MHz换能器,换能器电缆,耦合剂,手提箱,带颈带的橡胶保护套,使用说明书,两年有限保修

可选配件:
USB / ADP-115:AC-115电源
USB / ADP-230:AC-230电源
Olympus NDT提供完整的传感器,电缆,耦合剂,校准试块和附件,以满足各种超声波精密厚度测量应用的要求。


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