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运行功率 | 600W(40kV、15mA)或是1200W(40kV、30mA)、稳定度:0.005% |
X射线管 | 金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4KW、焦点尺寸:1×10mm,风冷或是水冷(水流量大于2.5L/min) |
测角仪 | 样品水平θs-θd结构、衍射圆半径150mm |
测量方式 | 连续、步进、Omg |
角度测量范围 | θs/θd联动时-3”-150” |
最小步宽 | 0.0001” |
角度重现 | 0.0005” |
角度定位速度 | 1500”/min |
能谱分辨率 | 小于25% |
计数器 | 封闭正比或高速一维半导体计数器 |
线性计数率 | ≥5×105CPS(正比)、≥9×107CPS(―维半导体) |
计算机 | 戴尔商用笔记本 |
仪器控制软件 | Windows7操作系统,自动控制X射线发生器的管电压、管电流、光闸及射线管老化训练;控制測角仪连续或步进扫描,同时进行衍射数据采集;对衍射数据进行常规处理:自动寻峰、手动寻蜂、积分强度、峰高、重心、背景扣除、平滑、峰形放大、谱图对比等。 |
数据处理软件 | 物相定性、定置分析、Kα1、α2剥离、全谱图拟合、选峰拟合、半高宽和晶粒尺寸计算、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、多重绘图、3D绘图、衍射数据校准、背景扣除、无标祥定量分析等功能、全谱图拟合(WPF)、XRD衍射谱图模拟。 |
散射线防护 | 铅+铅玻瑱防护,光阐窗口与防护装置连锿,散射线计置不大于1μSv/h |
仪器综合稳定度 | ≤1% |
样品一次装软数据 | 配置换样器,每次最多装载6个样品 |
仪器外形尺寸 | 600×410×670(w×d×h)mm |