过程光度计
PUV3402 和 PIR3502
新一代的在线过程光度计
Multiwave^TM过程光度计设计用于气体或液体组份测量，在简单或复杂的工艺生产流程中为过程控制、产品质量控制、安全、催化剂保护和环境监测提供依据
Multiwave^TM过程光度计是固定滤光器光度计，利用光学滤光器进行连续测量。单一的光束，双波长概念使用在Multiwave^TM过程光度计上，用于补偿光源和检测器老化，以及测量池窗口的污染。同时，保证样品池与电子部件的隔离。
Multiwave^TM过程光度计设计采用单一光束，双波长概念的一个重要的举措是，增加了8个滤光器到滤光轮上。这个改进的方法提供了多组份过程光度计。使用多波长功能的Multiwave^TM过程光度计，能够补偿众多干扰，并进行多组份分析应用。
新的Multiwave^TM过程光度计提供了更强的操作性能，更高的运行效率和丰富的功能。Multiwave^TM过程光度计有两个基本系列，每个系列都能满足众多的应用需求。
PIR3502Multiwave^TM过程光度计应用于红外测量。
PUV3402Multiwave^TM过程光度计设计用于紫外和可见光光谱范围。
Multiwave^TM过程光度计能被连接到ABB分析仪家族的VistaNET^TM过程分析仪网络，提供从分析仪到DCS的数据交换，无缝连接到工厂局域网，用于远程用户访问，接入VistaNET^TM后，所有的操作员功能可以在分析仪或远程PC上执行。
Multiwave^TM光谱范围
红外(IR)2.50-14.5um
近红外(NIR)800-2500nm
可见光(VIS)400-800nm
紫外(UV)200-400nm
Multiwave^TM过程光度计的应用
PIR3502
红外：
氯化芳烃溶剂中的异氰酸酯
环境空气监测
聚合过程的多组份单体
近红外：
测量含(C-H,N-H,O-H)
官能团中的水，比如二氯乙烯(EDC)
酸性脱除应用中腐蚀性样品
PUV3402
可见光：
色度测量(ASTM,APHA,Saybolt Color Units)
紫外：
乙二醇工艺
光气中的氯气测量
更多详细信息参加Multiwave^TM过程光度计及应用手册
VistaNET^TM连接
VistaNET^TM过程分析仪网络是一个局域网，用一个专用和可靠的方式，提供从过程光度计到DCS的数据交换。VistaNET^TM也提供无缝连接到工厂局域网。
通过Multiwave^TM过程光度计远程用户界面，用户能从远程PC配置、操作和维护操作分析仪。远程访问能执行所有的操作功能。
远程组态和监视Multiwave^TM过程光度计，提高技术人员的时间利用率
吸收光率与浓度数据的曲线图，可以使得操作者检查标定样品的准确性和线性。
远程维护通过调制解调器，多个用户能够同时观察数据和维护工作。
报告和表格在远程位置能被打印和显示。
VistaNET^TM设计适用于大多数用户使用的计算机硬件配置，操作系统包括WindowsTM95,98和NT，TCP/IP和其它协议。同时也能够非常简单，经济地连接其它网络*
更多详细信息参见VistaNET^TM手册
可靠的设计和性能
PUV3402和PIR3502Multiwave^TM过程光度计，设计适用于所有的富有挑战性的过程环境、包括环境温度变化、潮湿、腐蚀和爆炸性环境、电磁辐射、粉尘和振动。
易维护每个主要的部件可以被容易的拆除和更换，显著减少维护时间。
固态检测器PIR3502和PUV3402使用固态检测器。检测器有稳定的温度特性并对振动的不敏感。不需要机械调节和小的内部连接。具有优良的线性和长使用寿命。
切光马达提供优良的机械可靠性和长使用寿命。
多大8个点的线性化曲线保证2%满量程线性值，并允许在某一特定范围内使用好的精度。
*隔离的样品池防止易燃性和腐蚀性流体接触到电子部件，允许样品池加热到佳样品条件，并选择佳的光学路径。
光路自动校正在维护操作期间节省时间。
温度控制滤光组件消除温度对滤光片的影响，提供长期的稳定性。
样品池电加热概念的Division I/Zone I的电加热样品池，采用的伴热管概念，减少了样品池上的温度梯度。提供一个更稳定的输出和优良的温度控制。
数据有效性确保Multiwave^TM过程光度计数据的可靠性。
自诊断为维护操作提供帮助。
功能用户界面分析仪直接用户界面，简单和容易地使用Multiwave^TM分析仪的前面板键盘和显示器。内建的VistaNET^TM功能，全部的操作功能可以从远程PC机上执行。
UV/VIS/NIR光纤光学选项
PFO3502Multiwave^TM过程光度计提供一个光纤光学选项，用于远距离取样的应用。采用该选项，光波通过光纤传输到远程样品池，另一个光纤将样品吸收后的光波返回到检测器。
光纤选项可以有效地在紫外/可见光/近红外应用，例如：
高毒性样品
腐蚀性样品
需要快速响应时间
高压样品
样品池在加热箱中的样品系统
Multiwave^TM过程光度计样品池在加热箱中的设计，提供了一个高温应用中简单有效的解决方案。这种设计的好处是样品池和样品处理组件在共用一个温度控制箱，从而消除了伴热样品关系存在的冷点。这种设计也保证了维护时间能够快速拆除样品池。