测厚仪标准片,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪（进口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等,国产天瑞,纳优等）
1.薄膜片,单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（4）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）;钯（Pd）等，其它镀层可定制.
2.镀层标准片:双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.
3.合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni 、Ni-P 等.
4.测量厚度范围：0.01~300μm.（特别厚度可订做）.
5.我们还有ROHS标准片,标准物件.
6.涂层测厚仪塑料标准片等.
客户在我的时候请了解清楚自己所需要使用的元素及厚度，以便我们更好的沟通与合作,谢谢！深圳市安达仪器仪表有限公司,,
钯镍合金校正片Pd-Ni,Pd 80%,NI 20%
Pd-Ni,Pd 80%,NI 20% 0.75um
Pd-Ni,Pd 80%,NI 20% 2.0um
Pd-Ni,Pd 80%,NI 20% 3.0um
Pd-Ni,Pd 80%,NI 20% 5.0um
Pd/Ni/Cu Pd 10.4/200 u", 0.26/5.09 um Plated Pd-3434
Pd-Ni/Cu Pd 14.3 u" 80% ,0.36 um Plated Pd/Ni-3146
Pd-Ni/Cu Pd 71 u" 80% ,1.80 um Plated Pd/Ni-3147
Pd-Ni/Cu Pd 205 u" 80% ,5.21 um Plated Pd/Ni-3501
Pd-Ni/Ni Pd 80.7 u" 80%, 2.05 um Plated Pd/Ni-3810
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