Panametrics 35系列的特性

• 所有型号的标准配置均包含声速和减缩率测量。
• 可测厚度范围宽：0.08 mm～635.0 mm（0.0030 in.～25.0 in.），取决于仪器和材料。
• 采用接触式、延迟线式、水浸式探头。
• 自动调用功能可调用默认设置和自定义设置。
• 手持式，仅重0.24公斤（8.5盎司）。
• zui小/zui大模式
• 高-低报警
• 英制和公制显示（英寸或毫米）
• 多种语言用户界面
• *电池

Panametrics 35型和35DL型?

在大多数应用中都可应用35型和35DL型
35型和35DL型测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。

应用
• 从薄到厚的大多数材料
• 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金属容器、钢卷材及机加工部件
• 汽缸孔、涡轮叶片
• 玻璃灯泡、瓶子
• 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
• 半径较小的曲面部分或容器
• 分辨率可达0.001毫米或0.0001英寸

Panametrics 35HP型和35DL-HP型?

HP测厚仪具有极低的超声频率带宽和特殊的脉冲发生器-接收器。这种设计的主要目的是在测量较厚的、声速衰减明显或声速散播强的材料时优化超声波的穿透性。通常情况下，使用大多数其它超声测厚仪无法对这些材料进行测量。

应用
• 大多数较厚的或具有高声速衰减性的材料
• 厚金属铸件
• 厚橡胶轮胎、履带
• 玻璃纤维船体、储罐
• 复合材料板
• 分辨率为0.01毫米或0.001英寸

35型、35DL型、35HP型和35DL-HP型技术规格*

测量类型：厚度、声速、渡越时间。
厚度测量范围*：0.08毫米～635毫米（0.003英寸～25英寸）
*厚度范围因型号、材料、探头种类、表面条件和所选设置的不同而不同。

材料声速范围：0.5080毫米/微秒～18.699毫米/微秒
（0.02000英寸/微秒～0.7362英寸/微秒）


 

渡越时间测量范围：0.0 µs～109.5 µs

渡越时间分辨率：固定在000.01 µs。

测量更新速率：4、8、16或zui大频率值（16～20 Hz，因应用和测量模式不同而不同）。

探头频率范围：2.25 MHz～30 MHz（35型和35DL型）
0.5 MHz～5.0 MHz（35HP型和35DL-HP型）

zui小/zui大模式：显示当前厚度、zui小厚度或zui大厚度（视设置而定）。

显示保持/空白：显示上一个读数后，屏幕显示空白或者持续显示这个读数。
报警模式：可编程高/低报警设定点，带有视听报警指示器。

差分模式：显示实际测量值和参考值之间的厚度差。

缩减率模式：显示厚度数值及实测厚度与参考厚度的百分比差值。

自动调用功能：自动为各种默认的和自定义的探头设置调节内部参数。