涂层测厚仪CM8856/铁基涂层测厚仪-沈阳华盛昌机电设备有限公司手机版

详细介绍

产品名称：涂层测厚仪

产品型号：CM8856

产品品牌：兰泰Landtek

产品编号：MC：01558

CM8856涂层测厚仪简介：

涂层测厚仪用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。

CM8856涂层测厚仪详细说明：

● 涂层测厚仪是用电池供电的便携式测量仪器，采用磁感应和电涡流原理。测量方法符合标准ISO2178,ISO2360和国家标准GB4956,GB4957.它采用计算机技术,无损检测技术等多项*技术,无需损伤被测体就能准确地测量出它的厚度。

● 涂层测厚仪 F型探头可直接测量导磁材料（如铁、镍）表面上的非导磁覆盖层厚度（如：油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬等）。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量，也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。

● 涂层测厚仪 NF型探头可测量非导磁金属基体上的绝缘覆盖层厚度，如铝、铜、锌、无磁不锈钢等材料表面上的油漆、塑料、橡胶涂层，也可测量铝或铝合金材料的阳极氧化层厚度。

● 具有耐磨硬质金属探针的弹簧导套式探头,不但能在坚硬或粗糙的表面上进行测量,而且能保证测头具有不变的压紧力和稳定的取样值。

● 测量范围宽,分辨率高。

● 自动记忆校准值,方便使用。

● 一体化结构,体积小,重量轻。

● 数字背光显示,无视差。

● 可存储99组数据通过测出平均值,zui大值和zui小值实现仪器的统计功。

● 利用可选的RS232C软件和电缆,可与PC计算机通讯,实现数据的采集,处理,分析和打印功能。

● 涂层测厚仪设有自动关机，实现省电功能。

CM8856涂层测厚仪特点：铁基.铝基两用涂层测厚仪

技术指标：

CM8856涂层测厚仪技术指标

规格
显示器4位数字背光液晶
标准测试范围	0-1250 um（其他测量范围可订制）

zui小曲面	F: 凸 1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm
zui小测量面积	6mm
zui薄基底	0.3mm
分辨率	0.1μm/1μm
测量精度	±1-3%n或2.5μm
电池电压指示	低电压提示
具有自动识别被测基体的功能。
测量模式单次测量和连续测量。
具有公英制单位转换功能,实现μm/mil转换。
带有标准的RS232C接口。
电源: 2节7号电池。
操作条件	温度0-40℃，湿度< 95%
尺寸	126x65x35 mm
重量	81 g 不包括电池
标准附件	便携盒 1只铁基 1块铝基 1块说明书 1份校准膜片 1套（膜片的实际厚度详见包装）
可选附件	1.RS232C 通讯电缆和软件USB适配器 2.蓝牙通讯和软件

CM8856涂层测厚仪使用方法：

● 基体金属特性

对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

●基体金属厚度

检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。

●边缘效应

不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

●曲率

不应在试件的弯曲表面上测量。

●读数次数

通常由于仪器的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

● 表面清洁度

测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质

CM8856涂层测厚仪应用范围：

涂层测厚仪应用：用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

CM8856涂层测厚仪注意事项：

影响因素

●基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

●基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

●基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

●边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

●曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

●试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

●表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

●磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

●附着物质

本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

●测头压力

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

● 测头的取向

测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。

使用仪器时应当遵守的规定

● 基体金属特性

对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

●基体金属厚度

检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。

●边缘效应

不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

●曲率

不应在试件的弯曲表面上测量。

●读数次数

● 表面清洁度

测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质

产品简介

详细介绍