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Leica EM TXPLeica TXP精密研磨切割抛光
Leica EM TXP徕卡精研一体机 是一款可对目标区域进行精.确定位的表面处理工具，特别适合于SEM, TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。有了Leica EM TXP,这些工作就可轻松完成。 参考价面议 -
Leica EM TXP徕卡精研一体机精密研磨切割抛光
Leica EM TXP徕卡精研一体机 是一款可对目标区域进行精.确定位的表面处理工具，特别适合于SEM, TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。有了Leica EM TXP,这些工作就可轻松完成。 参考价面议 -
Leica EM TXPPCB精密研磨切割抛光
Leica EM TXP徕卡精研一体机 是一款可对目标区域进行精.确定位的表面处理工具，特别适合于SEM, TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。有了Leica EM TXP,这些工作就可轻松完成。 参考价面议 -
Leica EM TIC 3Xion milling 离子研磨切割抛光
徕卡三离子束切割仪： Leica EM TIC 3X 是一款*的三离子束切割仪，可对软硬复合型或应力敏感型材料样品进行离子束轰击，获得样品截面，便于SEM观察样品内部结构信息及分析。 参考价面议 -
Leica EM TXP电镜样品处理精密研磨切割抛光
Leica EM TXP徕卡精研一体机 是一款可对目标区域进行精.确定位的表面处理工具，特别适合于SEM, TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。有了Leica EM TXP,这些工作就可轻松完成。 参考价面议 -
Leica EM TIC 3XCP 离子研磨切割抛光
徕卡三离子束切割仪： Leica EM TIC 3X 是一款*的三离子束切割仪，可对软硬复合型或应力敏感型材料样品进行离子束轰击，获得样品截面，便于SEM观察样品内部结构信息及分析。 参考价面议 -
Leica EM TXP定点加工精密研磨切割抛光
Leica EM TXP徕卡精研一体机 是一款可对目标区域进行精.确定位的表面处理工具，特别适合于SEM, TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。有了Leica EM TXP,这些工作就可轻松完成。 参考价面议 -
Leica EM TIC 3X电镜样品 离子研磨切割抛光
徕卡三离子束切割仪： Leica EM TIC 3X 是一款*的三离子束切割仪，可对软硬复合型或应力敏感型材料样品进行离子束轰击，获得样品截面，便于SEM观察样品内部结构信息及分析。 参考价面议 -
Leica EM TXP精密研磨切割抛光一体
Leica EM TXP徕卡精研一体机 是一款可对目标区域进行精.确定位的表面处理工具，特别适合于SEM, TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。有了Leica EM TXP,这些工作就可轻松完成。 参考价面议 -
Leica EM TIC 3X电镜 离子研磨切割抛光
徕卡三离子束切割仪： Leica EM TIC 3X 是一款*的三离子束切割仪，可对软硬复合型或应力敏感型材料样品进行离子束轰击，获得样品截面，便于SEM观察样品内部结构信息及分析。 参考价面议 -
Leica EM TXP高精度精密研磨切割抛光
Leica EM TXP徕卡精研一体机 是一款可对目标区域进行精.确定位的表面处理工具，特别适合于SEM, TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。有了Leica EM TXP,这些工作就可轻松完成。 参考价面议 -
Leica EM TIC 3X氩离子 离子研磨切割抛光仪
徕卡三离子束切割仪： Leica EM TIC 3X 是一款*的三离子束切割仪，可对软硬复合型或应力敏感型材料样品进行离子束轰击，获得样品截面，便于SEM观察样品内部结构信息及分析。 参考价面议