X光金属镀层测厚仪

XRF-2000X光金属镀层测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2021-02-20 15:42:31
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上海益朗仪器有限公司

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产品简介

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪:丁成峰 137 0160 0767

详细介绍

XRF2000 测厚仪测量功能
 
1.      可测绿油厚度在 Cu 或其他金属中.方法是客户自行準备二片不同厚度的板.先用其他方法把绿油厚度测出来.然后用此二片板做一档案即可.误差约15%.视乎不同厚度有所不同.
2.      可测板来料 Cu 厚度选购件.会另配一探头於机上.可测 0.5oz 至 4.0oz Cu 厚度. 误差约5%.视乎不同厚度有所不同.
3.      可测溶液浓度选购件.方法是先用 AA 机测溶液浓度.然后用此溶液做档案即可.误差约10%视乎不同浓度有所不同.
4.      XRF2000 可测六层.误差大约如下:*层5%.第二层10%.第三层15%.第四层20%.第五层25%.第六层为底材.误差视乎不同原素不同厚度有所不同.
5.      以下是一些应用参考.
应用 XRF2000 可测范围
Au/Ni/Cu Au 0.5-120uinch. Ni 10-400uinch.
Au/Ni-P/Cu Au 0.5-120uinch. Ni-P 10-400uinch.
SnPb/Cu Sn 100% 40-3500uinch. Sn 60% 40-1500uinch. Sn 90% 40-2000uinch.
Ag/Cu Ag 4-2000uinch.
Au/XX Au 0.5-320uinch
Sn/Ni/XX Sn 10-350uinch. Ni 10-500uinch.
Sn/XX Sn 40-2500uinch.
 

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