美国SCS Ionograph BT LP型离子污染测试仪
Ionograph BT LP是Ionograph BT Series 离子污染测试系统三款桌上型中大测试槽（35.3 x 50.8 x 6.4 cm）的一款离子污染仪。可用于较大组件或超大样品的测试。
离子污染：
离子污染的存在会对使用电子电路的设备的性能和使用寿命产业不利的影响。残留的离子污染会导致绝缘表面的腐蚀和电流泄露。当在正常环境中暴露于湿度时，电路和组件劣化的速度显著增加。
离子残留物来自化学加工和电子制造过程中的各种来源。 典型污染源包括：
金属清洁剂
化学蚀刻剂
电镀化学品
助焊剂
加工设备
清洗线
环境（灰尘、二氧化碳）
汗液
特别是微电子污染，即使是人类喷嚏中的痕量离子残留物也会导致灾难性失败。所以消除电子电路和组件上的离子残留量可以使产品达到预期的性能和降低产品的可靠性风险。现在已经有很多关于离子污染的工业规范盒军事规范被广泛用于产品生产的质量控制。
Ionograph BT Series 离子污染测试系统可以简单，准确的测量残留的离子。对于裸板、组装板、无源元件和微电子部件的残留离子进行简单准确的测量。适用于任何生产商或第三方检测实验室。
SCS Ionograph BT Series: LP (Large Parts)

上海益朗仪器有限公司销售美国SCS离子污染测试仪及相关配件耗材：
Omegameter 650 SMD型离子污染静态测试仪
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Ionograph BT MP型离子污染动态测试仪（桌上型，中测试槽）
Ionograph BT SP型离子污染动态测试仪（桌上型，小测试槽）
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