SGW X-4 SGW X-4A SGW?X-4B显微熔点仪

SGW X-4 SGW X-4A SGW?X-4B显微熔点仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-03-29 09:57:42
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长沙市天恒科学仪器设备有限公司

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产品简介

测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

详细介绍

    测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

    技术参数

        SGW®X-4  SGW®X-4A  SGW®X-4B
      熔点测量范围  室温至320℃  室温至320℃  室温至320℃
      测量重复性  ±1℃ (在<200℃ 时)；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)  ±1℃ (在<200℃ 时)；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)  ±1℃ (在<200℃ 时)；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)
      温度显示最小值  1℃  0.1℃  0.1℃
      熔点观察方式  单目显微镜  单目显微镜  双目体视显微镜
      光学放大倍数  40×  40×  40×-100×连续变倍
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