兼容装载口的膜厚测量系统GS-300

兼容装载口的膜厚测量系统GS-300

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-03-03 17:42:18
90
产品属性
关闭
塔玛萨崎电子(苏州)有限公司

塔玛萨崎电子(苏州)有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

简单介绍: 它是一种具有图案匹配功能且XY定位精度为2um或更小的系统。

详细介绍

详情介绍:
特殊长度
  • 支持集成到Φ300mmEFEM单元的备用端口
  • 实现晶圆中嵌入的布线图案的图案对齐
  • 支持半导体工艺的高产量要求
  • 支持缺口对齐功能
  • 小尺寸规格

测量例
  • TSV嵌入式图案晶片研磨后的硅厚度
  • 晶圆厚度Φ300mm尺寸

电影
  • 产品信息
  • 规格
  • 测量例

相关信息

相关产品

光谱干涉晶圆测厚仪SF-3

超快光谱干涉型测厚仪

嵌入式膜厚监测仪

显微光谱仪OPTM series

膜厚计FE-300

光谱椭偏仪FE-5000 / 5000S

多通道光谱仪MCPD-9800 / 6800
提示

请选择您要拨打的电话: