介电常数及介质损耗测试仪

冠测公司自主研发电性能专业检测仪器分类

序号设备名称设备型号测试指标备注

1电压击穿试验仪DDJ10KV-150KV介电强度、泄漏电流介电强度、泄漏电流

2体积表面电阻测定仪GEST-121体积电阻率、表面电阻率体积电阻率、表面电阻率

3高频介电常数测试仪GCSTD-A介电常数、介质损耗测试频率10KHZ-50MHZ

4高频介电常数测试仪GCSTD-B介电常数、介质损耗测试频率20KHZ-160MHZ

5工频介电常数测试仪GCSTD-C介电常数、介质损耗测试频率50HZ

6高低频介电常数测试仪GCSTD-D介电常数、介质损耗测试频率20HZ-5MHZ

7耐电弧试验仪NDH-A耐电弧微机控制、触摸屏控制

8高压漏电起痕试验仪NLD-AI高压等级测试电压6KV

9耐电痕化指数测定仪NLD-BCTI/PTI电压600V

10电线电缆耐电痕试验仪NLD-C漏电痕迹、电痕化触摸屏

11导体电阻率测定仪GEST-125导体电阻率触摸屏

12半导体电阻率测定仪GEST-123半导体电阻率触摸屏

13炭素材料电阻率测定仪GEST-122电阻率触摸屏

14石油焦粉末电阻率测定仪GEST-124电阻率触摸屏

15回路电阻测定仪HLD-100A回路电阻数字

16高温耐压试验仪DDJT-10KV-150KV高温耐压温度和电压范围可选

17电阻温度特性测定仪GCWRT-II电阻温度特性微机控制

18介电温谱特性测定仪GCWP-A温谱、频谱温度和频率范围可选

GCSTD-A

介电常数测试仪及介质损耗测试仪

满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

ASTM D150/IEC 60250

一、概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

二、仪器的技术指标

1．Q值测量

a．Q值测量范围：2～1023。

b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

c．标称误差

项 目GCSTD-A

频率范围20kHz～50MHz；

固有误差≤5％±满度值的2％；

工作误差≤7％±满度值的2％；

频率范围10MHz～60MHz；

固有误差≤6％±满度值的2％；

工作误差≤8％±满度值的2％。

2．电感测量范围：14.5nH~8.14H

3．电容测量：1~ 460

项 目GCSTD-A

直接测量范围1～460pF

主电容调节范围

准确度30～500pF

误差：±（0.5%C+0.1 pF）

注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则

4．信号源频率覆盖范围

项  目GCSTD-A

频率范围10kHz～50MHz

频率分段

（虚拟）10～99.9999kHz

100～999.999kHz

1～9.99999MHz

10～60MHz

频率指示误差3×10-5±1个字

5．Q合格指示预置功能

预置范围：5～1000。

6．Q表正常工作条件

a.  环境温度：0℃～+40℃；

b．相对湿度：<>

c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

7．其他

a．消耗功率：约25W；

b．净重：约7kg；

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

8．产品配置：

a.测试主机一台；

b.电感9只；

c.夹具一套

9、样品尺寸：直径为Φ50mm/Φ38mm/100MM  厚度为0.5-15MM