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SGW X-4显微熔点仪
SGW X-4显微熔点仪 特点:
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
主要技术参数:
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性: ±1℃ (在<200℃ 时)
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)
温度显示zui小值: 1℃
熔点观察方式 单目显微镜
光学放大倍数 40×