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三思纵横风暴系列新一代电子试验机
面议ISS 激光共聚焦快速荧光寿命成像系统FLIM/FCS
面议碳、氮、硫、氯 元素分析仪multi EA® 5000
面议碳、硫、氯 元素分析仪 4000
面议液压平衡电动对辊机MSK-2300A
面议布鲁克S1 TITAN手持式X荧光光谱仪
面议布鲁克/超轻便型直读光谱仪 Q2 ION
面议德国EPK公司MINITEST 403/405系列超声波壁厚测厚仪
面议布鲁克/直读光谱仪 Q4 TASMAN
面议能量色散X荧光光谱仪4500H
面议涂镀层测厚仪MINITEST 600
面议全反射X射线荧光光谱仪 (TXRF)S4 TStar
面议 痕量分析 TXRF 光谱仪
快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U,含量范围ppb至99%,检出限到2pg。
需要样品量少,液体及悬浮物样品1-50微升,粉末样品10微克以内。
的便携式全反射荧光仪,设备小巧,一体化结构设计,不需要任何辅助设备及气体、液氮等,可拿到现场进行分析。
1位及25位全自动进样器两款设计,分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。
第四代XFlash®SDD硅漂移探测器,采用帕尔贴冷却技术,不需要液氮,没有任何消耗。分辨率优于160eV at MnKa 100Kcps。
由于全反射无背景,荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好,用户不需要标样就可以进行定量分析。
行业应用:
水、废水、土壤中的污染元素;血液、尿液、组织中的有毒元素;食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。