HORIBA XGT-1000WR主要技术指标：

1、 分析元素：Si～UCd/Pb高精度型；Na～U任选：φ1.2 mm/φ0.1 mm切换方式型

2、 检测精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

3、 检测仓内部尺寸：不超过460×360 mm高150 mm

4、X射线照射径：φ1.2 mm可选：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切换

5、 检测器：高纯硅检测器 XEROPHY

6、 设备重量：约 265 kg不含桌子、计算机

7、 外形尺寸：分析部分：610W×750D×500Hmm 

       8、 信号处理部：220W×500D×480Hmm 

       9、可同时测量4层金属镀层的厚度。

                    HORIBA拥有堀场制作所拥有70多年的X射线分析技术沉淀。HORIBA XGT1000WR便是一款经典机型。其X荧光光谱仪被广泛推荐使用，广泛应用于RoHS，ELV，WEEE的检测和过程控制