T3Ster热阻测试仪T3Ster热阻测试仪

用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。T3Ster基于*的JEDEC ‘Static Method’测试方法（JESD51-1），通过改变电子器件的输入功率，使得器件产生温度变化，在变化过程中，T3Ster测试出芯片的瞬态温度响应曲线，仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的全面的热特性。T3Ster测试技术不是基于“脉冲方法”的热测试仪，“脉冲方法”由于是基于延时测量的技术所以其测出的温度瞬态测试曲线精度不高，而T3Ster 采用的是“运行中”的实时测量的方法，结合其精密的硬件可以快速精确扑捉到高信噪比的温度瞬态曲线。

      T3Ster运用*的JEDEC稳态实时测试方法（JESD51-1），专业测试各类IC（包括二极管、三极管、MOSFET、SOC、MEMS等）、LED、散热器、热管、PCB及导热材料等的热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性。配合专为LED产业开发的选配件TERALED可以实现LED器件和组件的光热一体化测量。

      符合JEDEC JESD51-1和MIL-STD-750E标准法规。

T3Ster热阻测试仪工作原理

T3Ster设备提供了非破坏性的热测试方法，其原理为：
1) 首先通过改变电子器件的功率输入；
2) 通过TSP (Temperature Sensitive Parameter热敏参数)测试出电子器件的瞬态温度变化曲线；
3) 对温度变化曲线进行数值处理，抽取出结构函数；
4) 从结构函数中自动分析出热阻和热容等热属性参数。