冲击缺口粗糙观察 用缺口投影仪50倍放大
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CST-50冲击缺口粗糙观察 用缺口投影仪50倍放大

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2020-10-13 11:36:39
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济南方圆试验仪器有限公司

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产品简介

冲击缺口粗糙观察 用缺口投影仪50倍放大是我公司根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中冲击试样缺口的要求而设计

详细介绍

冲击试样投影仪属于正投影,可在放大的情况下,看缺口是否符合相关的检测标准要求。设备都为现货,可随时发货。

操作注意事项

 对于夏比V型缺口冲击试验,由于试样V型缺口要求严格(试样缺口深2mm、呈45?角且试样缺口要求R0.25±0.25),故在整个试验过程中,试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题,如果试样缺口的加工质量不合格,那么其试验的结果是不可信的,特别是R0.25mm缺口的微小变化(其公差带只有0.25mm)都会引起试验结果的陡跳,尤其是在试验的临界值时会引起产品报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格,对缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。

CST-50冲击试样投影仪技术参数

1投影屏直径180
2工作台尺寸方工作台110×125
圆工作台∮90
工作台玻璃直径∮70
3工作台行程纵向10mm
横向10mm
升降10mm
4工作台转动范围0~360º
仪器放大倍率50×
物镜放大倍率2.5×
投影物镜放大倍率20×
光源(卤钨灯)12V/100W
5电源220V/50Hz
6外型尺寸515×224×603mm(长×宽×高)
重量约18kg
 

产品概述

 CST-50型冲击试样缺口投影仪本投影仪是我公司根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对击试样缺口的要求而设计、开发的一种于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的光学仪器,CST-50型冲击试样缺口投影仪是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是操作简便,检查对比直观,效率高。

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