ARE X 残余奥氏体衍射仪-重工机械网

ARE X 残余奥氏体衍射仪

精确测量残余奥氏体的含量，对于热处理的控制是非常重要的，X射线衍射法（XRD）是可以准确测量残余奥氏体百分比含量低至0.5%的方法，残余奥氏体的测量遵循国际标准ASTM E975-03规则。

X射线发生器	输出功率（max）	3KW
	输出稳定性	<0.01% (电源供给10%的波动）
	输出电压	60KV
	输出电流	60mA
	电压步宽	0.1KV
	电流步宽	0.1mA
	波动	0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz
	预热与电路	自动预热和斜坡控制电路
	输入电压	230 V +/- 10%, 50 或60 Hz, 单相
X射线光管	光管类型	玻璃（可选陶瓷），Mo靶材，细焦斑（可根据要求选其他型号）
	焦斑尺寸	0.4 x 8 mm FF (可选0.4 x 12 mm LFF; 1 x 10 mm NF)
	准直	单毛细管准直器:直径1 - 2毫米
	输出电压（max）	3KV
测角仪	配置	垂直测角仪
	扫描角范围	27° < 2θ< 40°
	角准确度	± 0.001°
样品台	尺寸	110 mm x 150 mm
探测器	类型	高分辨率，带直接耦合（微米）光纤输入的X射线数码摄像仪和带制冷CCD
机体	尺寸	658 mm X1059 mm X762 mm
机体	X射线泄露量	< 1 mSv/年（按照国际准则充分安全屏蔽）
处理单元	计算机类型	个人计算机
	控制对象	X射线发生器、探测器和数据库
	基本数据处理	建立校准曲线，残余奥氏体计算