SJ5730系列高精度粗糙度轮廓一体测量仪
产品简介
详细信息
SJ5730系列高精度粗糙度轮廓一体测量仪采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术，实现对轴承及工件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析。通过超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能伺服驱动电机保证测量的超高稳定性及直线度，采用超高精度纳米衍射光学转轴测量系统及高精度直线光栅X轴建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机采用高精度标定系统对采样数据进行修正标定，最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓及微观轮廓进行各种粗糙度参数、轮廓参数分析。
可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业, 该仪器可以对零件表面，尤其是大范围曲面，如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测，是大曲面测量（轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子）领域精细粗糙度测量的利器。
产品优势
专业轴承测量、高稳定、高精密
- 具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围，专业测试轴承内外侧。可选专业轴承夹具和滚子分析，方便测试。
- 分辨率达到0.1nm，系统残差小于3nm。
- 超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。
- 高稳定的驱动设计，确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰，保障了系统扫描运动精度。
- 精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿，使其满足高精度轮廓测量。
操作灵活、智能、简单
- 轮廓和粗糙度一体测量，无需切换模块。
- 测针一键拔插，特殊设计的高刚性拔插结构，无需锁螺钉，方便快捷、稳定可靠。
- 各个运动轴都有进行硬件及软件保护，降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。
- 带舵机结构，可防止扫描陡坡时的快速下坠。
- 智能恒测力系统，0.5-3mN 测力档位可调，降低了测力变化引起的测量误差，适合测量各类软、硬性工件。
- 组合调节控制手柄可快速完成载物台平移，X轴和Z轴定位，测杆上下摆动及速度分级调节功能。
- 根据GB/T、ISO、JIS等标准，自动评价粗糙度。
- 软件操作界面简洁直观，任何人都能轻松设定和测量。
自动、批量、快速测量
- 对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量；
对于复杂的工件，可以工件的任意位置进行分段测量，并做成模板便于轮廓批量测量。 - CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行轮廓批量测量。
- 自动保存测量结果，测量完成后可输出测量报告，形式多样。
测量软件
测量功能
- 创建坐标：点线、两点 X、两线等工件坐标系。
- 量测工具：矩形框选提取点、矩形框选提取点、矩形框选提取中心点、自动矩形取多点提取线、自动点捕捉取多点提取线、自动矩形提取螺纹中径线、扇形框选提取弧/圆等。
- 构建特征：交点、中心点、角平分线、切线、两线内切圆、二次取样、垂线、平行线、特征偏移、两圆弧内切圆、直线旋转等。
- 可测几何量：点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。
- 形位公差：直线度、圆度、平行度、垂直度、同轴度、位置度、轮廓度等形位公差评定。
- 快速工具：坐标标注、两线交点、两线夹角、螺牙框选取交点标注、台阶高、滚珠丝杆、框选Pt、沟槽宽度、偏移点与轮廓相交直线、偏移直线与轮廓相交点、基边/基点标准等特殊工具快速测量。
- 具备自动找拐点功能，能按照程序设置进行X轴自动找拐点。
- 表面粗糙度评定： R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数。
- 支持公差设置、合格判定。
- 支持.cnc .xml .dxf 共3种格式的轮廓对比，如标准轮廓中有标注，可自动计算出对应标注结果。
- 支持轮廓扫描数据的修改，包括删除异常点来进行分析。
- 支持多条记录按照统一基准进行拼接分析功能。
- 支持轮廓特征、标注特征、形位公差的颜色自定义管理。
记录管理功能
- 将所有测量记录进行集中式管理。
- 按工件型号、工件名称、检测日期等进行检测信息查询。
- 可设置报表模板、批量导出Word、PDF、Excel报表和打印报告，批量统计。
数据输出功能
1. 可输出Word、PDF、Excel报表并预览，可输出扫描点文本文件txt、prf、dxf 文件。
2. 支持轮廓CNC批量实时输出至excel 模版，可定制模版。
3. 输出SPC分析报告，可输出统计值（如CA、PPK、CPK、PP等）及控制图（如均值与极差图、均值与标准差图、中位数与极差图、单值与移动极差图）。
4. 可以输出客户定义格式的Q-DAS文件。
典型应用
|
轴承滚道Pt、Ra |
叶片表面Ra |
|
齿轮齿面Ra |
模具轮廓、Ra |
|
汽车零部件轮廓、Ra |
工件轮廓、Ra |
|
轴承滚子分析 |
工件轮廓，圆度 |
技术参数
表1
| 型号 | SJ5730-100 | SJ5730-200 | ||
| 轮廓 | 测量范围 | X轴 | 0~100mm | 0~200mm |
| 立柱 | 0~300mm | 0~500mm | ||
| Z轴 | ±6mm（标准测针杆）（±12mm：选择两倍测针杆时） | |||
| 分辨率 | 最小分辨率0.001μm | |||
| 测量精度 | Z1轴轮廓精度*1 | ≤±（0.5+0.03 H）μm（H，mm） | ||
| 标准球测量误差*2 | ≤±1μm（R≤10mm）；≤±（0.17+R/12）μm（10 | |||
| 标准圆弧Pt精度*3 | Pt≤0.4μm | |||
| 角度精度*4 | ≤±1′ | |||
| 移动速度 | X轴 | 0~20mm/s | ||
| Z轴 | 0~20mm/s | |||
| 扫描速度（扫描轴） | 0.05～5mm/s | |||
| 直线度（扫描轴）*5 | ≤0.2μm/100mm | ≤0.35μm/200mm | ||
| 测量力 | 0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN（电子档位可调） | |||
| 粗糙度 | 适用Ra测量范围 | Ra0.012μm~Ra12.5μm（可选更大范围） | ||
| 示值误差*6 | Ra0.012μm ~ Ra3.2μm： ≤±(3nm+2.0%A)（A：测量Ra标称值，μm） Ra3.201μm ~ Ra12.5μm： ≤±(3nm+3.5%A)（A：测量Ra标称值， μm） | |||
| 重复性(1δ) *7 | 1δ≤1nm | |||
| 残值噪声*8 | Rq≤3nm | |||
| 粗糙度测量参数 | R粗糙度： Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ； 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo； P轮廓参数： Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax； W波纹度轮廓参数： Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc； Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte； 符合标准： GB/T 3505-2009，ISO 4287:1997，ISO13565-2:1996，ASME B46.1-2002, DIN EN ISO 4287:2010，JIS B 0601:2013，JIS B 0601-1994， | |||
| 滤波器 | 高斯滤波器、2RC滤波器，零相位滤波器 | |||
| 取样长度 | 0.008、0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25mm可选 | |||
| 评定长度 | 可根据测量长度自动计算取样长度的整数倍 | |||
| 滚子分析*9 | 滚子凸度、位置距离、对数滚子母线、X镜像曲线重合度， | |||
| 电源/功率 | 100-240VAC,50/60Hz,100W | 100-240VAC,50/60Hz,130W | ||
| 仪器尺寸（长×宽×高） | 600×350×890（mm） | 800×500×1080（mm） | ||
| 仪器总重量 | 110kg | 180kg | ||
| 工作环境 | 温度：20±5℃；相对湿度：10%~80%（无凝结）； 振动：振动速度均方根≤5μm/s，振动频率8~100Hz；室内应无影响测量的灰尘、震动、噪音、气流、腐蚀性气体和较强磁场。 | |||
注：
*1：此精度指标以测量标准量块为准。
*2：此精度指标以测量标准球且弧度超过90度为准。
*3：此精度指标以25mm以下标准球Pt测试为准。
*4：此精度指标以测量多面棱体角度为准。
*5：此精度指标以测量平晶为准。
*6：此精度指标以测量表面粗糙度比较样块为准。
*7：此重复性指标以0.1-0.2μm方波粗糙度样块、标准台阶块测试结果为准。
*8：此精度指标以1nm级粗糙度样块、平晶测试为准。
*9：此计算参数仅支持选配滚子分析功能模块。