YTS100超声无损检测显微镜
产品简介
详细信息
YTS100超声无损检测显微镜
一、产品名称、规格型号、数量
1.1 产品名称：超声无损检测显微镜
1.2 规格型号： YTS100
1.3 数量：1台
二、工作环境要求
2.1 环境温度要求：20～35℃
2.2 环境相对湿度：35℃≤50％RH
2.3 工作电源：220V/50Hz，3KW
2.4 水源：自来水，或去离子水，水温要求：15～30℃
三、技术指标
3.1 系统特性
整机尺寸：1250mm×960mm×1350mm；
扫查范围：350mm×200mm×110mm；
图像推荐分辨率：200um、400um；
典型扫描耗时：≤65s（测试条件：扫描区域10mm×10mm，分辨率50um）；
扫查速度：300mm/s
运动台定位精度：X/Y向1μm,Z向±10μm
重复定位精度：±0.01mm@400mm
重量：400kg
厚度检测范围
Ag材料： Cu材料： 树脂封装： 陶瓷电容：
0.3 ~ 1.5mm（25MHz探头）； 0.5 ~ 1.4mm（25MHz探头）； 0.1~ 1mm（50MHz探头）； 0.2~2mm（50MHz探头）
1.0 ~ 4.0mm（15MHz探头）； 1.2 ~ 3.7mm（15MHz探头）； 0.3 ~ 1.5mm（25MHz探头） 1.5~3mm (25MHz探头）
3.0 ~ 5.0mm（10MHz探头）。 1.0 ~ 4.0mm（15MHz探头）
3.2 软件功能
操作工模式：自动批量扫描、自动生成报告、手动分析、处方调用、一键校准；
工艺工程师模式：手动扫描、A/C扫描，处方读/写，强度测量、厚度测量，处方配置，探头管理等；
3.3 测量系统性能
3.3.1 标准块测量误差
测量机械加工的标准块（通过高分辨率超声显微镜钎着率），在软件进行强度校准的前提下，超声检测多次测量误差在±1%；
3.3.2 缺陷识别能力
在测量系统厚度能力范围内，被测材料声速在标准材料声速±5%以内的情况下，且超声入射表面为平面的被测产品的水平方向的结合缺陷的识别能力为0.15毫米（15兆、25兆探头）和0.22毫米（10兆探头）。
标准材料声速表
