JSM-7610F 场发射扫描电子显微镜
产品简介
详细信息
仪器名称：场发射扫描电子显微镜
品牌: 日本电子
型号：JSM-7610F
产地：日本
仪器介绍：
1.超高分辨图像的观察，放大倍数1百万倍
开发的强励磁物镜极靴设计，JSM-7610F的象差小，图像分辨率高，特别是在低加速电压下仍保持很高的分辨率，适合于材料表面的高分辨图像观察，分辨率指标如下：
1.0nm (二次电子,加速电压：15kV)
1.3nm (二次电子,加速电压：1kV)突出的低压分辨率
2. 分子泵系统：真空系统洁净，抽气速度快，维护简单。
3.五轴马达样品台标准控制：使用极为方便。
4.大样品室：利用JSM-7610F的标准配置，即可进行直径为150mm样品的观察；绝大部分操作通过鼠标即可实现。
5.能量过滤器：可以按任意比例混合二次电子和背散射电子图像。
6. 圆锥型热场发射电子枪：电子束虚漂移小，改变加述电压无需手动调节虚漂移点。7.光阑角控制透镜： 无须手动切换光阑，束流大小由计算机自动控制。
8. 离子泵的电源支持：停电后最长可以坚持14天，电池更换每年只需200元以内。
9.良好的可操作性：控制界面设计非常友好，使用极为便利。
10.多通道显示：最多可以选择四种图像同时显示，高位二次电子像，低位二次电子像，背散射组成像和背散射拓扑像。
11. 稳定的GB模式：标准配置。可以有效抑制充电和提高点电压下的分辨率。
12. 微区的成份分析几何尺寸好：配合能谱仪（EDS）分析时，工作距离只有8mm， 取出角35度，计数率是其他厂家的一倍。
13.超长的发射体寿命: 由于采用In-Lens技术，我们的束流强度可以达到200nA，其他厂家只能做到20nA.我们在做成分分析时，或搭载EBSD或WDS时，分析速度和结果的精确度远远高于他们。采用了In-Lens电子枪技术和的气锁换样系统，我们的发射体质保3年，用户一般使用在6年以上。