偏光熔点仪XPR-400E 上海绘统光学仪器厂
产品简介
详细信息
| 一、仪器的用途 透反射热台偏光显微镜是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业zui常用的专业实验仪器。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。 |
二、技术参数
1．目镜
| 类别 | 放大倍数 | 视场（mm） |
| 大视野目镜 | 10X | φ18 |
| 分划目镜 | 10X | φ18 |
2．物镜
| 类别 | 放大倍数 | 数值孔径（NA） | 盖玻片厚 |
| 无应力平场 | 5X | 0.12 | - |
| 10X | 0.25 | - | |
| 40X | 0.65 | - | |
| 60X | 0.85 | - |
3.光学放大倍数：50X--600X 系统放大：50X-2200X
4.目镜管：转轴式（倾斜30°），内置检偏器,可自由切换正常观察与偏光观察,推入式
勃氏镜,中心可调,λ补偿器,λ/4 补偿器,石英锲补偿器
5.透射照明：6V 20W卤素灯,亮度可调,起偏器可360°旋转有0、90、180、270四个读数
反射照明: 6V 20W卤素灯,亮度可调, 起偏器可旋转；
6.载物台：机械式附加旋转台面 尺寸 φ100mm， 360°旋转
7.调焦机构：粗微动同轴，齿轮转动 , 带限位及调节松紧机构
8.聚光镜：阿贝聚光镜NA1.25，升降上下可调
9.防霉系统:防霉
10.成像系统:配置日本JVC高像素CCD,像素达47万；
11.高精熔点测定仪（具体参数见熔点仪资料）
①精密温度控制仪显示窗口由上下二排四组数子及文字（英文）组成。
上排：温度测量显示组，下排 ：温度设定显示组. 数显方式:整数显示
②恒温范围：室温---400℃, 恒温精度：全范围≤±0.5℅, 恒温系统波动度：±1℃
如作熔点测量,则只能间接测量;必须通过标准物质熔点校正得到修正值后,再进行测量.
此仪器只能测量相对温度,不能测量温度; 仪器显示温度不等于物质的实际温度.
③温度速度：可设置升温速度范围（可调）：0.5---36秒/℃
zui大升温速度：室温---100℃≤40秒
zui慢升温速度达36秒/℃,达400℃时间：240分钟
即刻恒温响应时间：≤0.01秒
④热台尺寸: 厚度:12mm; 大小:Φ110mm; 高温区: Φ30mm, 通光孔: Φ4mm
⑤热台的外体与高温度采用三根陶瓷分开隔热;在中心温度400℃,室温25℃时,热台外
体温度≤70℃,热台zui大载物重量：200克
⑥热台传感器:高精度的双传感器,连接热台与温控仪
三、系统组成
电脑型 （XPR-400C）：1.显微镜 2.适配镜 3.摄像器 4.A/D（图像采集） 5.N型热台
数码型 （XPR-400D）：1.显微镜 2.适配镜 3.数码相机 4.N型热台
四、总放大参考倍数
XPR-400C型：50--3400倍 XPR-400D型：50--2000倍
五、选购件
1．目镜：16X（Φ11mm） 2．物镜：20X 50X 80X 100X
3．移动尺（30X25mm） 4．图像测量软件
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