iEDX-150μT镀层测厚仪
产品简介
详细信息
主要优点及应用
特殊镀层厚度检测：化学镀镍钯浸金、钯、 镍、 铑等；
汽车零部件、 线路板（PCB）镀层厚度检测，如：电容；
单层、 多层、合金镀层检测；
可同时检测合金镀层的厚度与成份比例；
可选用Capillary微焦点（35μm）检测样品；
可检测多层薄膜的膜厚（多达5层）；
便捷的样品台操控；
可多点连续检测；
支持在线远程控制；
| 项目 Item | 规格 Details |
| X射线管 X-ray generator | 钼/铑/ 钨/ 银 （可选），50kV，1mA Mo / Rh / W / Ag Target (Option), 50kV, 1mA |
| 探测器 Detector | SDD（硅漂移探测器） SDD (Silicon Drift Detector) |
| 分辨率 Resolution limit | 125±5eV 125eV (Mn Kα) |
| X射线焦斑 X-ray coverage | 聚光纤(50～100μm) Poly capillary optics (50 ~ 100μm) 0.035mm（可调） 0.035mm（adjustable） |
| 测量范围 Measuring range | 铝（13）～ 铀（92） Al (13) ~ U (92) |
| 样本类型 Sample type | 固体/液体/粉末，多层 Solid / Liquid / Powder, Multi-Layer |
| 样品室尺寸 Size of sample chamber | 390×410×100mm（宽×深×高） 390 × 410 × 100 mm(W × D × H) |
| 主要特征 Key features | - 自动/手动平台 - 常规镀层厚度检测，铑，钯，金，银，锡，镍- 可测多层薄膜的镀层厚度（多达5层） - Auto / Manual Stage Mode - Plating thickness measurement general, Rh, Pd, Au, Ag, Sn, Ni - Film thickness measurement of multilayer thin films (up to 5Layer). |
| 摄像头 Camera properties | 40～80倍 40 ~ 80 X |
| 安全性 safety | 3点联锁 3point interlock |
| 报告类型 Type of report | Excel，PDF/输出自定义表单 Excel, PDF / output Custom form |
测试结果界面(一)：
测试结果界面(二)：
