重工机械网

登录

仪器仪表光学仪器电子显微镜

高分辨场发射扫描电子显微镜

供应商:
束伦(上海)技术服务有限公司
企业类型:
其他

产品简介

性能指标电镜分辨率:1.5nm@15kV

详细信息

性能指标

  1. 电镜分辨率: 1.5nm @ 15kV;2.0nm @ 10kV;3.0nm @ 5kV
  2. 加速电压: 500V~30kV
  3. 束流大小: 20nA
  4. 电镜物镜模式: 磁浸入模式UHR、无磁场模式HR
  5. 电镜检测器: 高真空二次电子检测器(SE)、极靴内二次电子检测器(TLD)、极靴内背散射电子检测器(TLD-B)、四分固体式背散射电子探测器(BSE)、样品室红外CCD探测器
  6. 能谱分辨率: 129eV(Mn Kα)
  7. 能谱元素检测范围: B5~U92

主要应用

  1. 固体样品的微观形貌、结构,样品的微区元素成份及线分布、面分布,广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、热能、地球科学、环境、光电子等领域。
  2. 粉末、微粒样品形态的测定 金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物、细胞等材料的显微形貌分析 复合材料界面特性的研究。
  3. 材料中元素定性分析、定量分析、线分析、面分析 材料及电子器件失效分析

样品要求

  1. 样品中不得含有铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)。
  2. 样品不得具有磁性,并且不易被磁化。
  3. 样品中不得含有水分。
  4. 样品高度小于15mm,直径小于30mm。
  5. 多孔类或易潮解的样品,请提前真空干燥处理。
  6. 样品应具有导电性。
  7. 若样品不导电,需要进行镀金、碳等导电膜的处理(本实验室也提供镀膜服务,但需要另行收费)。 

仪器说明

仪器名称:高分辨场发射扫描电子显微镜 硅漂移探测器能谱仪 Field-emission Scanning Electron Microscopy & Energy Dispersive Spectrometer 仪器型号:Sirion 200 (SEM)& INCA X-Act (EDS) 仪器缩写:SEM 生产厂家:美国FEI公司& 英国Oxford公司 安装日期:2005年 关键词:扫描电镜 SEM 能谱仪 EDS 微观形貌 表面形貌 元素成分 元素分布 仪器简介: Sirion 200型扫描电子显微镜具有超高分辨率,该仪器能实现对各种固态样品表面形貌的观察,获得表面形貌的二次电子像、背散射电子像。该仪器配备的x射线能谱仪,能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量分析。