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仪器仪表光学仪器电子显微镜

超级分辨率场发射扫描电子显微镜/能谱仪

供应商:
束伦(上海)技术服务有限公司
企业类型:
其他

产品简介

性能指标二次电子像分辨率高加速:0.8nm@15.0kV(GB)低加速:1.2nm@1.0kV(GB)极低加速:3.0nm@0.1kV(GB)分析:3.0nm@15kV,5nA,WD10mm

详细信息

性能指标

二次电子像分辨率

  1. 高加速:0.8 nm@15.0 kV (GB)
  2. 低加速:1.2 nm@1.0 kV (GB)
  3. 极低加速:3.0 nm@0.1 kV (GB)
  4. 分析:3.0 nm@15 kV, 5 nA, WD 10 mm,
  5. WD: 2.0 ~ 25.0 mm (LDF模式时可达41mm) 

主要应用

该电镜及其附件主要用于各种材料的最细微纳米结构的观察,能够在低电压下为高磁性样品成像和分析,GB和GBSH模式可减少非导电样品上的电荷,减少对高分辨成像的镜头像差影响,得到不导电样品的高分辨图像。 

样品要求

  1. 样品直径<32mm,高度<20mm。
  2. 不接受粉末样品。
  3. 可接金属块体,薄膜等固体样品。 

仪器说明

JSM-7800F具有浸没式肖特基电子枪;超级混合式物镜 : SHL;用新型探测器过滤电子能量。