LEPTOSKOP 2042 LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪
产品简介
详细信息
简介
多功能的仪器的准确测量技术，操作简便。该方案通过一个快速解锁代码表示现场升级包括在内。该LEPTOSKOP 2042用于测量非磁性基片上磁性涂层（根据获得DIN EN ISO 2178的厚度），并测量电非导电非磁性涂层的导电基板的厚度涡流方法手段（据了DIN EN ISO 2360 ） 。 在同一个舒适的工具的组合就像一个模拟指针显示为一个类似Windows档案管理和自由选择10种不同语言的厚度值的可靠技术，满足了一项雄心勃勃的用户的所有愿望。 该LEPTOSKOP 2042年，是一个带有电池寿命100小时以上的时间，经济手段。 该仪器记录的操作时间和数量的测量，所以这些重要的参数是正确的测试设备可追查本身。 彩色橡胶保护皮套包括在供货范围和保护与滑带额外的保护功能，在工业环境中的工具。
特点
·大型图形显示48毫米× 24毫米
·校准选项
出厂校准，即刻准备测量
标定未知涂层*
零点校准*
一，多箔校准基底上无涂层*
标定涂层材料*
校准数据可以存储在单独的单独校准文件，可以重新从那里加载
·佳显示模式可选 适应的测量任务*
·输入和限额监测*
·与存储的数据容易档案管理，在Windows（三）
·实用的电脑软件 STATWIN 2002 和 EasyExport
·统计数字*
·统计评价多 999读数
·小值，大值，平均值，读数，标准差数，限制监控
·当地平均厚度和涂层厚度（通过DIN EN ISO 2808 ）
·在线统计，在所有统计值一览
| 串行接口进行数据传输到RS232或USB | |
| 电源，可通过电池，充电电池， USB或电源单元 | |
| 测量范围： | 0 – 20000um（取决于探头） |
| 测量速度： | 高达每秒2读数 |
| 存储： | 高。在9999*140文件读数 |
| 测量不确定度： | |
| 涂层厚度< 100um：1 ％的读数+ / - 1um校准后 | |
| 涂层厚度> 100um： 1 .. 3读数+ / - 1um％ | |
| 涂层厚度> 1000um： 3 .. 5读数+ / - 10um％ | |
| 涂层厚度> 10000um：5阅读+ / - 100um％ | |
| 普通型 |
| 铁基膜层测厚仪标准套 | 2042F |
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| 非铁基膜层测厚仪标准套 | 2042NF |
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| 铁基/非铁基膜层测厚仪标准套 | 2042 |
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| 数据型 | 铁基 | 2042 Fe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量认证书，仪器箱 | 2042 EF |
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| 2042 Fe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量认证书，仪器箱 | 2042DF |
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| 非铁基 | 2042 NFe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量认证书，仪器箱 | 2042ENF |
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| 2042 NFe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量认证书，仪器箱 | 2042DNF |
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| 铁基/非铁基 | 2042 Fe/NFe Set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括：膜层测厚仪，统计模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 EasyExport软件，操作手册，质量认证书，仪器箱 | 2042 E |
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| 2042 Fe/NFe Data Set----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜层测厚仪，统计和资料模块，试块，校正薄膜，附加PC电缆和 STATWIN 2002软件，操作手册，质量认证书，仪器箱 | 2042 D |
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