LEP-J 涂层测厚仪电磁式探头
产品简介
详细信息
LEP-J型涂层测厚仪电磁式探头
是用于Kett电磁膜厚仪的探头。
如：LE-370/LZ-370/LE-200J/LZ-200J/LE-373/LZ-373。
注：L-500型膜厚仪的电磁式探头为EP-100；内置存储芯片。
规格：
| 产品描述 | Feプローブ（ケーブル色：黒）電磁式 Fe Probe (Black Cable) Electromagnetic | |
| 产品型号 | LEP-J | |
| 测量对象 | 磁性金属上的非磁性涂层 | |
| 测量范围 | LE-370/LZ-370/LE-373/LZ-373 | 0-2,500μm 或 99.0mils |
| LE-200J/LZ-200J | 0-1,500μm 或 60.0mils | |
| 尺寸 | φ13×90 mm（不包括电缆和连接器） | |
| 电缆长度 | 1.2m | |
| 重量 | 110g | |
| 产地 | 日本 | |
| 生产厂家 | 株式会社ケツト科学研究所 Kett Electric Laboratory | |
| 供应商 | 上海益朗仪器有限公司 Shanghai Yilang Instruments Co.,Ltd. | |
涂层测厚仪电磁式探头使用方法
请仔细阅读膜厚仪主机使用说明书后再使用。使用该探头进行初次测量时，为了获得正确的测量值，使用膜厚仪时请务必进行调整（校正）。
使用时的注意事项
若探头尖部损伤或附着污渍，将无法进行准确的测量。请勿在测量表面上敲打探头，或将探头按在测量表面上拖动。测量后，请用沾有稀释剂、酒精等清洁剂的软布清洁探头尖部。存储芯片安装在连接器部分上，因此请注意不要使其受到强烈碰撞。