GCSTD-D GCSTD-D半导体高低频介电常数测试仪
产品简介
详细信息
高低频介电常数测试仪
GCSTD-D
一、满足标准：
GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
二、技术要求：
接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料
电类型：固定电-测量电φ38mm
测试频率：20HZ-2MHZ
测试电：黄铜电
测试环境：室温
三、软件功能：
* 1、测试频率可以扫描进行测试
*2、测试频率可以单点测试
*3、测试频率可以多频设置测试
4、测试速度模式：快速、中速、慢速
5、测试数据与曲线显示：
*6、电阻率—测试频率
*7、jue对介电常数--测试频率
*8、相对介电常数--测试频率
*9、相对介电常数虚部--测试频率
*10、相对介电常数实部--测试频率
*11、介质损耗--测试频率
*12、电容值--测试频率
四、随机配置
1、主机：1台
2、测试电：1套
3、数据线：1套
4、电源线：1根
5、合格证：一份
6、测试系统：一套
五 、测试电桥参数
| 测试参数 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
| 测试频率 |
| 20 Hz～2MHz,10mHz步进 |
| 测试信号电 | f≤1MHz | 10mV～5V,±（10%+10mV） |
| 平 | f>1MHz | 10mV～1V,±（20%+10mV) |
| 输出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
| 基本zhun确度 | 0.1% | |
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| L | 0.0001 uH ～ 9.9999kH |
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| C | 0.0001 pF ～ 9.9999F |
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| R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ |
| 显示范围 | Y, B, G | 0.0001 nS ～ 99.999 S |
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| D | 0.0001 ～ 9.9999 |
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| Q | 0.0001 ～ 99999 |
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| θ | -179.99°～ 179.99° |
| 测量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
| 校准功能 | 开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准 | |
| 等效方式 | 串联方式, 并联方式 | |
| 量程方式 | 自动, 保持 | |
| 显示方式 | 直读, Δ, Δ% | |
| 触发方式 | 内部, 手动, 外部, 总线 | |
| 内部直流偏 | 电压模式 | -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 |
| 置源 | 电流模式（内阻为50Ω） | -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 |
| 比较器功能 | 10档分选及计数功能 | |
| 显示器 | 320×240点阵图形LCD显示 | |
| 存储器 | 可保存20组仪器设定值 | |
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| USB DEVICE( USBTMC ａnd USBCDC support) | |
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| USB HOST(FAT16 ａnd FAT32 support) | |
| 接口 | LAN(LXI class C support) | |
| RS232C | ||
| HANDLER | ||
| GPIB（选件） | ||