Spectra-QT 成像传感器量子效率测试光源
产品简介
详细信息
对于图像传感器行业而言，精确地了解光电量子效率的转换是极其重要的，一个良好特性的传感器可以和调整输入滤波后的光谱，增强修正终端产品的使用性能。
Spectra-QT成像传感器量子效率测试光源提供可调的、已知均匀度的、覆盖光谱灵敏度范围的硅光学传感器单色光源，用于测试图像传感器的光谱响应率和量子效率，线性度，像素和模块。
测量参数：
- 量子效率
- 光谱响应率
- 线性度
特点：
- 超高的光照强度和超大的动态范围，能够满足各种传感器的量子效率测试需求
- 输出稳定、光谱辐射度均匀的面光源，确保传感器测试结果的一致性。
- 光谱辐照度和辐亮度能够实时溯源至美国国家标准与技术研究院（NIST）
- 提供软件开发包，能够满足客户各种自定义测试流程开发需要
主要规格参数
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| 光谱辐照度 | 光谱辐亮度 |
| 波长范围: | 375 - 1100 nm | 375 - 1100 nm |
| 光谱带宽: | 5 nm to10 nm | 5 nm to10 nm |
| 波长准确度: | 0.6 nm | 0.6 nm |
| 开口孔径尺寸: | 29 mm, 23.9 mm, 26.2 m, 22 mm | N/A |
| 400 nm光谱辐照度: | 12 mW/cm2 | 32 mW/cm2-sr |
| 600 nm光谱辐照度: | 21 mW/cm2 | 54 mW/cm2-sr |
| 800 nm光谱辐照度: | 5 mW/cm2 | 11 mW/cm2-sr |
| 550 nm稳定性: (UV-VIS 光源) | < 1.5% over 5 sec period | < 1.5% over 5 sec period |
| 750 nm稳定性: (VIS-NIR 光源) | < 0.05% over 5 sec period | < 0.05% over 5 sec period |