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ST2253 薄膜电阻测试仪,半导体材料电阻率仪,方阻测试仪

供应商:
东莞市众升仪器有限公司
企业类型:
其他

产品简介

薄膜电阻测试仪,半导体材料电阻率仪,方阻测试仪: 薄膜电阻测试仪也叫薄膜电阻率测试仪,方阻测试仪,可以测量半导体材料的电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方阻)。换上特制的四探针测试夹具,还可以对金属导体的低、中值电阻进行测量。仪器由主机、测试探头(可选配测试台)等部分组成,测试结果由主机数码管直接显示。也可连接PC机由配套软件在PC机上操作,其数据可由软件显示、分析、保存和打印!

详细信息

一、薄膜电阻测试仪,半导体材料电阻率仪,方阻测试仪特性:
主机主要由精密恒流源,高分辨率 ADC、嵌入式单片机系统组成,自动转换量程。测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别适用于要求快速测量中低电阻率的场合。
 
 
三、基本技术参数
2.1测量范围
阻率:10-4105Ω-cm
方块电阻:10-3106Ω/
阻:10-4105Ω
2.2可测半导体材料尺寸
 径: Φ15100mm, 长(或高)度: 400mm
2.3测量方位:
轴向、径向均可
2.4.   4 1/2 位数字电压表:
⑴量程: 200mV
⑵误差:±0.1%读数±2
2.5数控恒流源
⑴电流输出:直流电流 0100mA 连续可调,由交流电源供电。
⑵量程:1μA10μA100µA1mA10mA100mA
⑶误差:±0.5%读数±2
2.6四探针测试探头
(1)探针间距 1mm
(2)探针压力: 02kg 可调,*大压力约 2kg
(3)探针:碳化钨,Φ0.5mm
2.7.电源
输入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<20W
2.8.外形尺寸:
主机  260mm(长)×210 mm(宽)×125mm(高)

本产品全免费保修壹年,长久维护,免费送货上门调试并培训,培训时间为半天。

东莞市众升仪器主营产品还有静电放电发生器,雷击浪涌发生器,脉冲群发生器,电压跌落模拟器,维氏硬度计,标准光源灯箱,恒温恒湿试验箱等产品销售。