半导体材料和器件电学特性测试方案
产品简介
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深圳市捷泰普科技有限公司的半导体材料和器件电学特性测试方案基于是德科技仪表（半导体参数分析仪、电流波形分析仪、功率器件分析仪等）+可定制探针台+自主开发的测试软件，优点在于：
是德科技半导体参数分析仪具有业内性能和指标：快IV和10ns~10s快脉冲IV测试能力，保证了测试结果的精度、稳定和可重复性；
是德科技电流波形分析仪可精确测量宽带低电平电流波形，不忽略任何瞬态电流，提高测试效率；
是德科技功率器件分析仪，可进行完成的IV测试（10kV/1500A），高精度和自动的CV测试（3000V偏压），Qg测试（），电流崩塌测试（针对GaN器件，）和变温热效应测试；
材料和器件On-Wafer测量——中国台湾奕叶(EVERBEING)探针台经销商；
自主开发的测试软件可程控仪表，操作简单，并自动输出测试报告。
半导体材料和器件的On-Wafer测量：
