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Vista-SNOM MVI散射式扫描近场光学显微镜

供应商:
上海纳腾仪器有限公司
企业类型:
其他

产品简介

MVI散射式扫描近场光学显微镜

详细信息

随着近些年对于纳米光子学、表面等离极化激元、二维材料以及范德华异质结构等领域的深入研究,扫描近场光学显微镜 (Scanning Near-field Optical Microscope, SNOM) 已成为研究这些领域的的表征手段。虽然扫描近场光学显微镜在散射式模式(s-SNOM)下的空间分辨率有了很大的提升,但是在实际使用上仍然得十分繁杂。在这一背景下,美国Molecular Vista应运而生,推出了全新一代散射式扫描近场光学显微镜Vista-SNOM!

有别于传统的扫描近场光学显微镜,Vista-SNOM基于专用的光诱导力显微镜(Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术,通过检测探针与样品之间的偶极交互直接获得样品表面的场强分布,无需远场光学探测器。这不仅杜绝了远场信号的干扰,也无需像SNOM那样配置多个不同波段光学探测器。光诱导力显微镜的检测端可无缝适应紫外~射频,用户仅需考虑如何将激发光激发至样品。


Vista-SNOM在光诱导力显微镜模式下实测的场强结果与模拟结果高度吻合,同时也具备了s-SNOM模式。这使得科研人员可以将PiFM场强结果与s-SNOM场强结果进行对比分析。


s-SNOM 散射式扫描近场光学显微镜案例

下图为金铝二聚体分别在480nm和633nm不同偏振方向激发后的场强分布,图a,b的实测场强与图c,d的理论模拟是否吻合,金铝二聚体间隔仅为5nm!

Wavelength-dependent Optical Force Imaging of Bimetallic Al-Au Heterodimers, Nano Lett. 2018


上面提到拉曼信号的增强主要源于局域表面等离子体共振(LSPR)的电磁场增强,下图为基于银颗粒阵列的表面增强拉曼衬底(SERS)的场强分布,图f的FWHM结果显示光诱导力显微镜实现了3.1nm的空间分辨。

Fabrication and near-field visualization of a waferscale dense plasmonic nanostructured array, RSC Adv. 2018