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M-Z光学干涉仪

供应商:
四川物科光学精密机械有限公司
企业类型:
其他

产品简介

M-Z光学干涉仪通过比较被测物和参考物的相位(表现为条纹的变化),从而实现被测物的物理量的测量。

详细信息

产品介绍

M-Z光学干涉仪产品说明:

马赫-曾德干涉仪属于一种等光程比较干涉。通过比较被测物和参考物的相位(表现为条纹的变化),从而实现被测物的物理量的测量。马赫-曾德干涉仪通常用于测量透明介质折射率的微小变化,可用于气体、液体、透明固体、冲击波及热传导等方面的研究。

M-Z光学干涉仪技术参数:

参数

大值

小值

备注

视场

Φ500mm

Φ50mm

 

干涉条纹间距

无穷大

0.1mm

 

图像分析软件

满足干涉条纹背景滤波、二值化、细化与修像、标记、采样读数、物理参数计算读取等功能

成像传感器

数码单反相机、高速相机、记录干板

光源

532nm激光光源、632.8nm激光光源

其他

系统采用有效的减振方式