X射线探测器系列化
产品简介
详细信息
正比探测器、闪烁探测器
使用时需要配置单色器，有效去掉Kβ线。
线性计数：≥5×105CPS
能谱分辨率：正比≤25%、闪烁≤50%。
使用时不需要配置单色器，线性计数：≥1.5×105CPS、能谱分辨率≤200eV，较线性探测器，样品测量速度提高4倍以上，可实现高分辨率X射线衍射测量。
由640个探测器组成的一维半导体陈列探测器，相比传统的闪烁或正比探测器可以提高衍射强度120倍以上，在较短时间内，获取高灵敏度、高分辨率完整的衍射谱图，并且还有非常好的去荧光能力，即使是测量强荧光的样品，一维半导体陈列探测器提供的数据也展示出非常好的信噪比。
线性计数：≥9×109CPS，能谱分辨率：≤25%；有高计数模式及去除荧光背景两种工作模式。
探测器型号是： MiniPIX 60K 由捷克航空实验室制作，有效面积14×14mm、像素尺寸55µm、像素数量256×256、每个像素计数率大于3×106cps。样品测量速度较常规的正比探测器+单色器提高35倍以上。
半导体阵列探测器Si样品衍射谱图